Методы рентгеновского анализа

Дифракция рентгеновских лучей от кристаллов находит два основных применения. Она используется для исследования спектрального состава рентгеновского излучения (рентгеновская  спектроскопия) и для изучения структуры кристаллов (рентгеноструктурный анализ).

Определяя направления максимумов, получающихся при дифракции исследуемого рентгеновского излучения от кристаллов с известной структурой, можно вычислить, например, по формуле (   ) длины волн. Первоначально для определения длин волн были использованы кристаллы кубической системы, причем межплоскостные расстояния определя­лись из плотности и молекулярного веса кристалла.

В методе структурного анализа, предложенном Лауэ, пучок рентгеновского излучения со сплошным спектром направляется на неподвижный монокристалл. Для каж­дой системы слоев, достаточно густо усеянных атомами, находится в излучении длина волны, при которой вы­полняется условие ( ). Поэтому на поставленной за кристаллом фотопластинке получается (после проявле­ния) совокупность черных пятнышек.

Оставить комментарий к «Методы рентгеновского анализа»